Testplatine CDEBYTE E32-900MBL-01 für E32-900M20S Entwicklungs-Evaluierungskit Backup-USB-Schnittstelle Hauptsteuerungs-MCU STM8L151G4

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E32-900MBL-01 Modultestplatine der E32-Serie [Schnittstelle]: USB [Größe]: 53 * 27 mm [Funktion]: Modultestplatine der E32-Serie [Einführung]: Die Evaluierungskits der MBL-Serie sollen Benutzern dabei helfen, die paketkompatiblen Funkmodule der neuen Generation von... Weiterlesen

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E32-900MBL-01 Modultestplatine der E32-Serie

[Schnittstelle]: USB

[Größe]: 53 * 27 mm

[Funktion]: Modultestplatine der E32-Serie

[Einführung]: Die Evaluierungskits der MBL-Serie sollen Benutzern dabei helfen, die paketkompatiblen Funkmodule der neuen Generation von Ebyte schnell zu evaluieren. Die meisten Pins auf der Platine sind zu den Pin-Headern auf beiden Seiten herausgeführt, Entwickler können je nach tatsächlichem Bedarf problemlos eine Vielzahl von Peripheriegeräten über Jumper anschließen.

    E32-900MBL-01

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